Seminar INFLPR
Miercuri, 17.05.2017, ora 10:50
Sectia Laseri, sala de seminar
Titlu: „Rugozitatea la scara nanometrica”
Prezinta: Dr. Iuliana URZICA
Rezumat: Masurarea rugozitatii este o trasatura importanta in caracterizarea topografiei suprafetei. In prezent rugozitatea si precizia de masurare depind de conditiile tehnologice, rugozitatea fiind masurata cu o sensibilitate suficient de buna de multi ani. Precizia insa ridica mari probleme, se observa in ultimii ani o miniaturizare a dispozitivelor folosite, variind de la micro – senzori la echipamente electronice si biologice ce folosesc nanoparticule. Aceasta reducerea a dimensiunilor necesita miniaturizarea si integrarea diferitelor componente.
Rugozitatea acceptata este de asemenea situata in intervalul (1-10nm). Este cunoscut faptul ca exista diferite tipuri de instrumente comerciale capabile sa produca harta topografica a suprafetei, fiecare avand propriul mod de a interactiona cu suprafata reala (profilometre cu contact, interferometru in lumina alba, microscoape cu scanarea probei). Rugozitatea este un factor important pentru măsurare la scara nanometrica si este esentiala in multe aplicatii, ca de exemplu: implementarea microcircuitelor, productia de masini, productia de lentile optice, in biologie etc.
